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Titel: Model Based Statistical Testing of Embedded Systems
Publikationstyp: Konferenzbeiträge
Autoren: Böhr F
Erscheinungsjahr: 2011
Herausgeber: IEEE Computer Society
Journal: Fourth International IEEE Conference on Software Testing, Verification and Validation, ICST 2012, Berlin, Germany, 21-25 March, 2011, Workshop Proceedings
Seiten: 18 - 25
URL/DOI: http://dx.doi.org/10.1109/ICSTW.2011.11
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